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西澤 伸一 and 山口 博隆 and 加藤 智久,X線トポグラフィーによるSiC単結晶成長その場観察装置の開発,電子技術総合研究所彙報,03669092,つくば : 電子技術総合研究所,1999-09,63,8・9,305-310,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521136280803072896,