Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
塩原 政彦 and 市村 裕司 and 石渡 統,半導体断面の解析技術,富士時報 = Fuji electric journal,03673332,東京 : 富士電機技術開発本部 ; [1935]-2012,2007-05,80,3,179-181,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521417755045238528,