著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
高貫 智久,低分子シロキサンによる接点障害の解析・評価サービス,Okiテクニカルレビュー,13465961,東京 : 沖電気工業Okiテクニカルレビュー編集委員会,2011-10,78,1,64-67,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521699230646762624,