著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
鈴木 清高 and 梶原 希令,孔壁画像からのRQDによる岩盤評価について,応用地質技術年報 = Oyo technical report,13431145,東京 : 応用地質,1997,,19,61-70,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521699231136957056,