著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
佐々木 里佳 and 高橋 義之,テクノロジー クラック発生によるノイズが引き起こす周波数ジャンプ現象,EMC : electro magnetic compatibility : solution technology : 電磁環境工学情報,09162275,つくば : [科学情報出版],2001-10,14,6,52-56,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521980704706441728,