著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
岸 政七,Waltzing Patternを用いたICメモリ素子試験,電子通信学会論文誌. D,0374468X,東京 : 電子通信学会,1977-12,60,12,p1031-1038,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521980704838859264,