著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Thomas Adams and Steve Martell and 根本 眞,フリップチップ実装における超音波検査の重要性,Semiconductor international. 日本版,13496425,東京 : リード・ビジネス・インフォメーション,2008-12,5,12,43-46,https://cir.nii.ac.jp/crid/1521980706039291520,