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勅使河原 寛 and 大込 絢治 and 清水端 治 and 岡澤 宏 and 堀 陽子 and 山岡 慎也 and 中村 雅俊 and 加藤 史也,X線透視によるメモリ素子の特性悪化と回避策,信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability,,[東京] : [日本科学技術連盟],2018-07,48,,175-180,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522262179591968128,