Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
中村 豊一 and 大金 秀治 and 黒田 英彦,動的故障像を用いたロジックLSIの故障箇所特定手法の開発と応用事例,NEC技報 = NEC technical journal,02854139,東京 : 日本電気,1997-07,50,6,"16-20,図巻頭1p",https://cir.nii.ac.jp/crid/1522543654774860416,