著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Saito A,The recognition of interference fringes appearing in electron micrographs of ultrathin sections,電子顕微鏡学会誌,00220744,東京 : 日本電子顕微鏡学会,1965-10,14,2,101-111,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522543655242211456,