Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
Bruce Morey and 上智大学SLO,海外技術動向 表面計測の適材適所 : かつてないほど精密な表面計測が求められる時代にあって、重要なのは測定器の多さではない。どれがそれぞれの測定に最適かである,機械と工具 : 生産加工技術を支える,03871053,東京 : 日本工業出版,2016-12,6,12,45-49,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522543655274167168,