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保田 英洋 and 今村 真幸 and 新田 紀子,透過電子顕微鏡法(TEM)の基本原理とその場観察法によるナノ粒子の特異物性解析,ナノ学会会報 = The bulletin of the Society of Nano Science and Technology,13478028,豊中 : ナノ学会,2009-11,8,1,1-8,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522543655981958016,