Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
菱沼 一夫,プロセスにおけるレベル計測の考え方とその方法--包装ラインの速度制御へプロセス計測の考え方を生かす,計装,03685780,東京 : 工業技術社,1981-06,24,6,p6-11,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522825130359898752,