著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
藤原 弘和,"半導体製造における新しい不良検査 : 歩留まり向上,プロセス短縮へ向けて",車載テクノロジー = Automotive technology,24325694,東京 : 技術情報協会,2025-02,12,5,59-64,https://cir.nii.ac.jp/crid/1522837516063152256,