著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
新井 泰彦,誤差要因と測定精度の向上 : 2枚のスペックルパターンのみを用いたスペックル干渉計測法,機械の研究 = Science of machine,03685713,東京 : 養賢堂,2015-04,67,4,297-306,https://cir.nii.ac.jp/crid/1523106604849236608,