著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI) 青木 裕之,単一分子計測による高分子薄膜の物性評価,表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan,03885321,東京 : 日本表面科学会,2012-01,33,1,9-14,https://cir.nii.ac.jp/crid/1523388079863781120,