著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
渡辺 充 and 玉井 聡行,原子間力顕微鏡(AFM)を用いた高分子表面の評価--ラテックスフィルムの評価,科学と工業 = Science and industry,03685918,大阪 : 大阪工研協会,2003-12,77,12,626-631,https://cir.nii.ac.jp/crid/1523388080637290112,