著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
Kimura H,Observation of semiconductor elements using scanning electron microscope,電子顕微鏡学会誌,00220744,東京 : 日本電子顕微鏡学会,1966-07,15,1,21-25,https://cir.nii.ac.jp/crid/1523669553306308608,