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内藤 裕義 and 岩井 誉貴 and 奥田 昌宏,Time-of-Flight法およびTransient Photodecay法により導出された非晶質As2Se3の局在準位について--表面準位の影響,電子写真学会誌,0387916X,東京 : 電子写真学会,1990,29,2,p118-124,https://cir.nii.ac.jp/crid/1523951029561280640,