{"@context":{"@vocab":"https://cir.nii.ac.jp/schema/1.0/","rdfs":"http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#","dc":"http://purl.org/dc/elements/1.1/","dcterms":"http://purl.org/dc/terms/","foaf":"http://xmlns.com/foaf/0.1/","prism":"http://prismstandard.org/namespaces/basic/2.0/","cinii":"http://ci.nii.ac.jp/ns/1.0/","datacite":"https://schema.datacite.org/meta/kernel-4/","ndl":"http://ndl.go.jp/dcndl/terms/","jpcoar":"https://github.com/JPCOAR/schema/blob/master/2.0/"},"@id":"https://cir.nii.ac.jp/crid/1571698602336446592.json","@type":"Article","productIdentifier":[{"identifier":{"@type":"NAID","@value":"110003342544"}}],"dc:title":[{"@language":"ja","@value":"A/Dコンバータのアパーチャジッタ測定の新手法の提案"},{"@language":"en","@value":"A proposal of an aperture jitter measurement method"}],"dc:language":"ja","description":[{"type":"abstract","notation":[{"@language":"ja","@value":"ADCのアパーチャジッタ(以下Apj)の測定で、従来用いられている手法(参考文献[1])は、いくつかの原理的問題を含んでいる。図1に測定系を示す。従来は入力周波数fiとクロック周波数fcに、PLLをかけて厳密に同じ値を設定していた。そして、ADCの出力コードのばらつきの標準偏差を時間に換算しApjを求めていた。この手法の問題点は、APjが出力コード分布で測れるぼど大きいことが、ほとんどないことである。そのため測定結果が、fiとfcの微妙な位相関係により大きく異なるし、ADCの高周波での微分直線性(DCでのそれに比べて相当悪化している)にも依存することになる。"}]}],"creator":[{"@id":"https://cir.nii.ac.jp/crid/1581698602336446464","@type":"Researcher","foaf:name":[{"@language":"ja","@value":"源代 裕治"},{"@language":"en","@value":"Gendai Yuji"}],"jpcoar:affiliationName":[{"@language":"ja","@value":"ソニー株式会社セミコンダクターカンパニー"},{"@language":"en","@value":"Sony Corporation, Semiconductor Company"}]}],"publication":{"publicationIdentifier":[{"@type":"NCID","@value":"AN10489017"}],"prism:publicationName":[{"@value":"電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集"},{"@language":"en","@value":"Proceedings of the Society Conference of IEICE"}],"dc:publisher":[{"@value":"一般社団法人電子情報通信学会"},{"@language":"en","@value":"The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers"}],"prism:publicationDate":"1995-09-05","prism:volume":"1995","prism:number":"2","prism:startingPage":"209"},"dataSourceIdentifier":[{"@type":"CIA","@value":"110003342544"}]}