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Reliability of spot-size converted l.3μm lasers
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- Oohashi H.
- NTT Opto-electronics Laboratories
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- Tohmori Y.
- NTT Opto-electronics Laboratories
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- Kondo Y.
- NTT Opto-electronics Laboratories
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- Fukuda M.
- NTT Opto-electronics Laboratories
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- Sugie T.
- NTT Opto-electronics Laboratories
Bibliographic Information
- Other Title
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- スポットサイズ変換レーザの信頼性
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Description
1.3μmスポットサイズ変換LD(SSC-LD)は光ファイバなどとの結合効率が高くトレランスが大きいことから、低コスト化をねらった通信用LDモジュールなどの応用が期待されている。これらのLDはシステムへの応用を考えると広い温度範囲で長期にわたって安定に動作することが要求される。ここではこのSSC-LDに強制劣化試験を施し、その劣化モードを明らかにしたので報告する。
Journal
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- Proceedings of the IEICE General Conference
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Proceedings of the IEICE General Conference 1996 (1), 370-, 1996-03-11
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1571698602382802048
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- NII Article ID
- 110003245166
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- NII Book ID
- AN10471452
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- CiNii Articles