書誌事項
- タイトル別名
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- A Study of RF(Radio Frequency) noise immunity for Op-amps
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説明
2種類の汎用オペアンプLF356と451を用い,オペアンプの各端子から10M〜2GHzのRF信号を印加した場合の誤動作要因について検討した.入力端子からRF信号を印加した場合,両オペアンプとも誤動作が観測され,その要因は入力トランジスタでのRF信号の整流であることを明らかにした.また電源,出力端子からRF信号を印加した場合の誤動作は,RF信号が入力までリークし,入力トランジスタで整流され,引き起こされていることを明らかにした.またこれら端子から印加した場合,451のみ誤動作が観測されたが,これは451の方が入力トランジスタの整流効率が高いためであると考えられる.
収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告. EMCJ, 環境電磁工学
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電子情報通信学会技術研究報告. EMCJ, 環境電磁工学 95 (134), 1-8, 1995-06-29
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571980077283538944
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- NII論文ID
- 110003190679
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- NII書誌ID
- AN10013108
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles