Effects of Temperature, Forward current, and Commutating di/dt on the Reverse recovery Behavior of Fast Power Diodes

被引用文献1件

収録刊行物

  • EPE'95

    EPE'95 1.577-1.582, 1995

被引用文献 (1)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1572261549115590400
  • NII論文ID
    10004297526
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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