著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
于 湘秋 and 高橋 寛 and 高松 雄三,遅延効果を用いた組合せ回路における冗長故障のテスト生成法,"電子情報通信学会技術研究報告. FTS, フォールトトレラントシステム",,一般社団法人電子情報通信学会,1994-06-28,94,128,53-60,https://cir.nii.ac.jp/crid/1572543027237801728,