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宮脇 好和 and 中山 武志 and 三原 雅章 and 河井 伸治 and 大川 実 and 味香 夏夫 and 畑中 正広 and 寺田 康 and 吉原 務,NOR型フラッシュメモリにおける過剰消去検出手法とその応用,"電子情報通信学会技術研究報告. SDM, シリコン材料・デバイス",,一般社団法人電子情報通信学会,1994-12-16,94,407,29-34,https://cir.nii.ac.jp/crid/1572824502297597184,