A-3-7 不揮発メモリを対象に最悪書込みビット数削減と誤り訂正を両立する一対多符号構成手法(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)

  • 古城 辰朗
    早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工・情報通信専攻
  • 多和田 雅師
    早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工・情報通信専攻
  • 柳澤 政生
    早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工・情報通信専攻
  • 戸川 望
    早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工・情報通信専攻

書誌事項

タイトル別名
  • A-3-7 Worst-case Bit-Write-Reducing and Error-Correcting Code Generation by One-to-many Mapping for Non-Volatile Memories

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収録刊行物

詳細情報

  • CRID
    1573105977719604096
  • NII論文ID
    110009996035
  • NII書誌ID
    AA12732012
  • ISSN
    2189700X
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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