著者名,書名,版表示,出版者名,出版年,シリーズ名,番号,ISBN,ISSN,URL
"Craig, Rick D. and 宗, 雅彦 and 成田, 光彰 and Jaskiel, Stefan P.",体系的ソフトウェアテスト入門 : アジャイル開発時代のテスト計画、準備、実行、プロセス改善まで,,"日経BP社,日経BP出版センター (発売)",2004,,,4822282074,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1971149384820167595