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Characterization of Germanium Nanocrystallites Grown on SiO_2 by a Conductive AFM Probe Technique

書誌事項

タイトル
Characterization of Germanium Nanocrystallites Grown on SiO_2 by a Conductive AFM Probe Technique
著者
K.Makihara, Y.Okamoto, H.Murakami, S.Higashi, S.Miyazaki

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詳細情報

  • CRID
    1010000781801427468
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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