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Local Characterization of Electronic Transport in Microcrystalline Germanium Thin Films by Atomic Force Microscopy Using a Conducting Probr

書誌事項

タイトル
Local Characterization of Electronic Transport in Microcrystalline Germanium Thin Films by Atomic Force Microscopy Using a Conducting Probr
著者
K.Makihara.Y.Okamoto, H.Nakagawa, M.Ikeda, H.Murakami, S.Higashi, S.Miyazaki

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詳細情報

  • CRID
    1010000781801427471
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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