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and T. Nakanishi, Obstraction due to Sm-X-rays to the determination of ultra-low-level 152Eu separated from a sample exposed to Nagasaki atomic-bomb

書誌事項

タイトル
and T. Nakanishi, Obstraction due to Sm-X-rays to the determination of ultra-low-level 152Eu separated from a sample exposed to Nagasaki atomic-bomb
著者
Y.Inoue, T.Nomura, H.Izumi, R.Hosotani, A.Yokoyama

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詳細情報

  • CRID
    1010000781803088261
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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