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Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films

書誌事項

タイトル
Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films
著者
C.H.Chen, T.Kiguchi, A.Saiki, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani

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詳細情報

  • CRID
    1010000781805757954
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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