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Identification of native defects around grain boundary in Pr-doped ZnO bicrystal using electron energy loss spectroscopy and first-principles calculations

書誌事項

タイトル
Identification of native defects around grain boundary in Pr-doped ZnO bicrystal using electron energy loss spectroscopy and first-principles calculations
著者
Y.Sato, T.Mizoguchi, F.Oba, M.Yodogawa, T.Yamamoto, Y.Ikuhara

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詳細情報

  • CRID
    1010000781805806730
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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