【2022年1月締切】CiNii ArticlesへのCiNii Researchへの統合に伴う機関認証の移行確認について

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Suppression of DC bias stress-induced degradation of organic field-effect transistors using postannealing effects

書誌事項

タイトル
Suppression of DC bias stress-induced degradation of organic field-effect transistors using postannealing effects
著者
Tsuyoshi Sekitani, Shingo Iba, Tsuyoshi Sekitani, Yusaku Kato, Someya, Takayasu Sakurai

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詳細情報

  • CRID
    1010000781891263495
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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