【7/12更新】2022年4月1日からのCiNii ArticlesのCiNii Researchへの統合について

First-principles study of leakage current throught thin SiO_2 films

書誌事項

タイトル
First-principles study of leakage current throught thin SiO_2 films
著者
Daisuke Nakagawa, Katsuhiro Kutsuki, Tomoya Ono, Kikuji Hirose

収録刊行物

被引用文献 (0)

もっと見る

参考文献 (0)

もっと見る

関連論文

もっと見る

関連研究データ

もっと見る

関連図書・雑誌

もっと見る

関連博士論文

もっと見る

関連プロジェクト

もっと見る

関連その他成果物

もっと見る

詳細情報

  • CRID
    1010000781949544448
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
ページトップへ