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Evaluation Technique for The Failure Life Scatter of Lead-Free Solder Joints in Electronic Device

書誌事項

タイトル
Evaluation Technique for The Failure Life Scatter of Lead-Free Solder Joints in Electronic Device
著者
Miyauchi, H., Yu, Q., Shibutani, T., Shiratori, M

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詳細情報

  • CRID
    1010000781978377607
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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