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X-ray diffraction and infrared multiple-angle incidence resolution spectroscopic studies on the crystal structure and molecular orientation of Zinc-porphyrin thin films on a SiO_2/Si substrate

書誌事項

タイトル
X-ray diffraction and infrared multiple-angle incidence resolution spectroscopic studies on the crystal structure and molecular orientation of Zinc-porphyrin thin films on a SiO_2/Si substrate
著者
Sou Ryuzaki, Takeshi Hasegawa, Jun Onoe

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詳細情報

  • CRID
    1010000782034585607
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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