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Sperical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surface with an ultrathin SiO2 coverage

書誌事項

タイトル
Sperical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surface with an ultrathin SiO2 coverage
著者
N. Tanaka, S.-P. Cho, A. A. Shklyaev, J. Yamasaki, E. Okunishi and M. Ichikawa

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詳細情報

  • CRID
    1010000782034851599
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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