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Grazing Incidence X-ray Diffraction Measurements of InAs/GaAs Quantum Dots Using Equipment Available for Laboratories

書誌事項

タイトル
Grazing Incidence X-ray Diffraction Measurements of InAs/GaAs Quantum Dots Using Equipment Available for Laboratories
著者
Kohki Mukai

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詳細情報

  • CRID
    1010000782040711040
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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