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Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La_2O_3/silicat gate dielectric

書誌事項

タイトル
Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La_2O_3/silicat gate dielectric
著者
K. Kakushima, T. Koyanagi, K. Tachi, J. Song, P. Ahmet, K. Tsutsui, N. Sugii, T. Hattori, H. Iwai

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詳細情報

  • CRID
    1010000782065859591
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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