【7/12更新】2022年4月1日からのCiNii ArticlesのCiNii Researchへの統合について

Argon Ion Bombardment to Improve Contacts in Solution-Processed Single-Walled Carbon Nanotube Thin Film Transistor

書誌事項

タイトル
Argon Ion Bombardment to Improve Contacts in Solution-Processed Single-Walled Carbon Nanotube Thin Film Transistor
著者
X.Yi, G.Nakagawa, H.Ozawa, T.Fujigaya, N.Nakashima, T.Asano

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詳細情報

  • CRID
    1010000782066021896
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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