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A CMOS SRAM test cell design using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation failure analysis

書誌事項

タイトル
A CMOS SRAM test cell design using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation failure analysis
著者
H. Hatano

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詳細情報

  • CRID
    1010000782081498753
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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