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Deve lopment of cryogenic readout electron ics using Fully depleted silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors

書誌事項

タイトル
Deve lopment of cryogenic readout electron ics using Fully depleted silicon-on-insulator CMOS process for future space borne far-infrared image sensors
著者
Nagata, et al.

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詳細情報

  • CRID
    1010000782095616781
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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