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Atomic Structure Characterization of Stacking Faults on the {1-100} Plane in α-Alumina by Scanning Transmission Electron Microscopy

書誌事項

タイトル
Atomic Structure Characterization of Stacking Faults on the {1-100} Plane in α-Alumina by Scanning Transmission Electron Microscopy
著者
E. Tochigi, S. D. Findlay, E. Okunishi, T. Mizoguchi, A. Nakamura, N. Shibata, and Y. Ikuhara

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詳細情報

  • CRID
    1010000782282479769
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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