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Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy Study of Thermally Grown Oxides on 4H-SiC(0001) Si-Face and(000-1) C-Face Substrates

書誌事項

タイトル
Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy Study of Thermally Grown Oxides on 4H-SiC(0001) Si-Face and(000-1) C-Face Substrates
著者
H. Watanabe, T. Hosoi, T. Kirino, Y. Uenishi, A. Chanthaphan, A. Yoshigoe, Y. Teraoka, S. Mitani, Y. Nakano, T. Nakamura, and T. Shimura

収録刊行物

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詳細情報

  • CRID
    1010000782438912640
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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