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Threshold Voltage Dependense of Threshold Voltage Variability in Intrinsic Channel Silioon-on-Insulator Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors with Ultrathin Buried Oxide

書誌事項

タイトル
Threshold Voltage Dependense of Threshold Voltage Variability in Intrinsic Channel Silioon-on-Insulator Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors with Ultrathin Buried Oxide
著者
Chiho Lee

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詳細情報

  • CRID
    1010000782440616984
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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