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Scattering potentials at Si-Ge and Sn-Ge impurity dimers on Ge(001) studied by scanning tunneling microscopy and ab initio calculations

書誌事項

タイトル
Scattering potentials at Si-Ge and Sn-Ge impurity dimers on Ge(001) studied by scanning tunneling microscopy and ab initio calculations
著者
Kota Tomatsu, Binghai Yan, Chenchen Wang, 他

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詳細情報

  • CRID
    1010282256660994304
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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