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A Study of the Reliability of MOSFETs in Two Stacked Thin Chips for 3D System in Package

書誌事項

タイトル
A Study of the Reliability of MOSFETs in Two Stacked Thin Chips for 3D System in Package
著者
A.Ikeda, Y.Kuroki, et al.

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詳細情報

  • CRID
    1010282256770195589
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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