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Quantitative Effects of Preferred Orientation and Impurity Phases on Ferroelectric Properties of SrBi_2(Ta_<1-x>Nb_x)2O_9 Thin Films by X-Ray Diffraction Reciprocal Space Mapping

書誌事項

タイトル
Quantitative Effects of Preferred Orientation and Impurity Phases on Ferroelectric Properties of SrBi_2(Ta_<1-x>Nb_x)2O_9 Thin Films by X-Ray Diffraction Reciprocal Space Mapping
著者
K.Saito, I.Yamaji, T.Akai, M.Mitsuya, H.Funakubo

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詳細情報

  • CRID
    1010282256782477570
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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