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Improved Height Measurement of Single CdSe Colloidal Quantum Dots by Contact-mode Atomic Force Microscopy Using Carbon Nano-Tube Tips ; for the Investigation of Current-Voltage Characteristics

書誌事項

タイトル
Improved Height Measurement of Single CdSe Colloidal Quantum Dots by Contact-mode Atomic Force Microscopy Using Carbon Nano-Tube Tips ; for the Investigation of Current-Voltage Characteristics
著者
I.Tanaka, K.Kajimoto, K.Uno, O.Otsuki, T.Murase, H.Asami, M.Hara, I.Kamiya

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詳細情報

  • CRID
    1010282256786503427
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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