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Degradation of Electrical Performance in FD-SOI n-MOSFETs by 7.5-MeV Protons and 2-MeV Electrons

書誌事項

タイトル
Degradation of Electrical Performance in FD-SOI n-MOSFETs by 7.5-MeV Protons and 2-MeV Electrons
著者
K.Hayama, H.Ohyama

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詳細情報

  • CRID
    1010282256867812496
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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